1、EDX设备工作原理是什么？
答：原理：通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光，初级X光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线，也就是我们通常所说的X荧光，X荧光被TC器探测到后经放大，数模转换输入到计算机。计算机计算出我们需要的结果。
2、什么是我们作为元素分析的基础？
答：特征X射线，其由被测量物质的基本组成元素决定，元素不同，其特征X射线能量不同
3、为什么XRF RoHS测金属的结果与有些权威机构有差异？
答：（1）光谱分析为表面物理分析，比如化学溶样分析方法，两种测量方法之间的差别。 （2）金属标样自身的误差。 （3）金属样品表面有镀层。
XRF优点：
快速：一般测量一个样品只需要1～3分钟
无损：物理测量，不改变样品性质
准确：对样品可以精确分析
直观：直观的分析谱图，元素分布 一目了然
XRF测ROHS上的缺点：
1、X荧光分析属于对比分析仪器，需要标样做对比分析
2、只可以测试样品的元素，对化合物价态无法区分。如：只能测试总溴和总铬的含量
3、它是表面分析设备。
测量铁矿石时应该注意些什么？
(1) 一般是把铁矿石研磨达到一定的粒度熔融做
(2) 铁矿石中主要有TFe、SiO2、CaO、MgO、Al2O3、P、S等成分。一般来说Fe主要由Fe2O3、FeO、金属铁等组成。矿石是用来炼铁的，铁的多少决定了铁矿石的使用价值。所以一般用TFe来表示总铁量。
融融法分析X射线荧光分析铁矿石是可行的，但是也要掌握足够的方法技巧，否则很难分析准确TFe
(3) 可以加入氧化钴作为内标，测量会稳定一些。
(4) 我们加的是三氧化二钴作为内标的。
(1) 一般是把铁矿石研磨达到一定的粒度熔融做
(2) 铁矿石中主要有TFe、SiO2、CaO、MgO、Al2O3、P、S等成分。一般来说Fe主要由Fe2O3、FeO、金属铁等组成。矿石是用来炼铁的，铁的多少决定了铁矿石的使用价值。所以一般用TFe来表示总铁量。
融融法分析X射线荧光分析铁矿石是可行的，但是也要掌握足够的方法技巧，否则很难分析准确TFe
(3) 可以加入氧化钴作为内标，测量会稳定一些。
(4) 我们加的是三氧化二钴作为内标的。
是不是曲线使用一段时间后（具体不知道多长时间），会产生一些漂移 那么怎么处理这些漂移呢？步骤是什么？
(1) 如果发生的漂移超出了误差范围，那么就用标样重新做一条曲线。
(2) 应该可以再用漂移校正样品进行校正。否则，重新做线，实在是麻烦！
(1) 如果发生的漂移超出了误差范围，那么就用标样重新做一条曲线。
(2) 应该可以再用漂移校正样品进行校正。否则，重新做线，实在是麻烦！
某些元素间可能有全部或者部分谱线重叠。基本参数方程要求使用没有受到谱线重叠影响的净强度。在这些方程中包含某些经验的修正。关于谱线重叠效应的修正另有它文供参考。
2某些元素间可能存在元素间干扰或者基体效应。来弥补这些效应的经验方式就是制备一系列校正标样的曲线，浓度范围涵盖要分析的范围。此时需要仔细设计的参考物质。就是所有不需要分析的元素的含量固定，而要分析的元素浓度不同。这就是所谓基体匹配。Matrix Match.
可替代的是，可使用数学方法来弥补元素间或者基体的效应。干扰也可能来自康普敦谱线或者X射线管中靶材所产生的特征谱线，这些通过使用滤光轮去除，但同时也可能导致分析谱线强度的降低。
来自金相结构的误差，由于分析目标元素的密度受到样品的质量吸收系数的影响，而且数学模型假设的是均质物质，由此带来误差。例如，在含有碳和碳化物的钢材中，钛和镍可能以钛镍化碳合物的方式存在，相比铁对于钛的K-a谱线来讲，其具有较低的质量吸收系数，钛的密度高于这个样品。
其次，对于XRF，由于分析的固体进样性质，以及样品表面的性质可能与标样的差异，导致分析的偏差。
总而言之，样品与标样的不同性越大，其误差越大。所谓不同性包括：基体物质的物理化学性能，例如前面所言的密度，结构，成份组成以及浓度，表面情况，甚至样品中待测试元素的含量是否在标样范围内，每次样品放置的位置等都对于分析结果的准确度有影响。
工业产品由于其样品的复杂多样性，且限于成本以及其他原因，很难取得匹配的标准样品。故而其结果只能够作为筛查性质。但是高档次的EDXRF出于设计的品质不同，例如单点校正或者无标样的FP方法所得到的偏差在一定范围内误差可以控制在50%以内。